台式XRF分析仪

  • ISP膜厚分析仪、镀层分析仪iEDX-150WT
ISP膜厚分析仪、镀层分析仪iEDX-150WT

ISP膜厚分析仪、镀层分析仪iEDX-150WT

  • Product description: 1.镀层检测,最多镀层检测可达5层;镀液分析分析精度为0.001ppm(选配功能)。 2.超大可移动全自动样品平台620*525 (长*宽),样品移动距离前后左右各100mm 、高度5mm; 3.激光定位和自动多点测量功能; 4.可检测固体、液体、粉末状态材料; 5.运行及维护成本低、无易损易耗品,对使用环境相对要求低; 6.可进行未知标样扫描、无标样定性,半定量分析; 7.操作简单、
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