台式XRF分析仪

膜厚分析仪、镀层分析仪iEDX-150μT

Product description: 1.镀层检测，最多镀层检测可达5层；镀层测量精度0.001μm； 2.全自动样品平台250*250mm (长*宽)，样品移动距离前后左右各80mm 、高度90mm； 3.激光定位和自动多点测量功能； 4.运行及维护成本低、无易损易耗品，对使用环境相对要求低； 5.操作简单、易学易懂、精准无损、高品质、高性能、高稳定性，快速出检测结果（3-30秒）； 6.可针对客户个性化要求量身定做辅助分
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镀层测厚仪，膜厚仪

1.镀层检测，最多镀层检测可达5层；镀层测量精度0.001μm；
2.全自动样品平台250*250mm (长*宽)，样品移动距离前后左右各80mm 、高度90mm；
3.激光定位和自动多点测量功能；
4.运行及维护成本低、无易损易耗品，对使用环境相对要求低；
5.操作简单、易学易懂、精准无损、高品质、高性能、高稳定性，快速出检测结果（3-30秒）；
6.可针对客户个性化要求量身定做辅助分析配置硬件；
7.软件终身免费升级；
8.无损检测，一次性购买标样可永久使用；
9.使用安心无忧，售后服务响应时间24H以内，提供全方位保姆式服务；
10.可以远程操作，解决客户使用中的后顾之忧。